原子发射光谱:基本原理、仪器结构与应用领域深入解析
该思维导图概述了原子发射光谱的基本原理、仪器结构及分析方法。原理上,样品被激发至气态原子,随后通过电子跃迁发射特征光谱。仪器包括激发光源、分光系统和检测系统,分析方法涵盖定性、定量和半定量分析。同时,讨论了干扰与校正,以及性能参数如检出限与精密度。应用领域广泛,涵盖金属分析、环境监测、地质矿产和生物医药。技术优势包括多元素分析和宽线性范围,局限性则为仪器昂贵及对非金属灵敏度低。
源码
# 原子发射光谱
- 基本原理
- 定义
- 原子受激
- 电子跃迁
- 发射特征光谱
- 三过程
- 原子化
- 从样品转为气态原子
- 激发
- 基态变为激发态
- 能源来源:热能/电能
- 辐射
- 激发态返回基态
- 发射光量子 hν
- 特征谱线
- 定性依据
- 元素"指纹"
- 定量依据
- 赛伯-罗马金公式 I = a·cᵇ
- 仪器结构
- 激发光源
- 火焰光源
- 优点:温度低(~3000K)
- 电弧
- 适用于固体样品
- ICP光源
- 高温(10000K)
- 应用最广泛
- 分光系统
- 棱镜分光
- 材料:玻璃/石英
- 光栅分光
- 类型:平面/凹面光栅
- 中阶梯光栅
- 优点:高分辨率
- 检测系统
- 光电倍增管(PMT)
- CCD检测器
- 特点:全谱直读
- CID检测器
- 优势:抗晕染
- 分析方法
- 定性分析
- 标准光谱图比对法
- 波长测定法
- 定量分析
- 标准曲线法
- 内标法
- 优势:消除波动影响
- 选择原则:激发性质相似
- 标准加入法
- 半定量分析
- 谱线黑度比较法
- 干扰与校正
- 光谱干扰
- 谱线重叠
- 解决:选择替代谱线
- 背景干扰
- 解决:背景校正技术
- 非光谱干扰
- 电离干扰
- 解决:加入消电离剂(Cs盐)
- 基体效应
- 解决:基体匹配/分离
- 物理干扰
- 溶液粘度
- 表面张力
- 影响:雾化效率
- 性能参数
- 检出限(LOD)
- 定义:3倍背景噪声
- ICP-AES:ppb级
- 精密度
- RSD ≤ 2%(ICP)
- 线性范围
- 4~6数量级
- 优于AAS
- 应用领域
- 金属分析
- 钢铁
- 分析元素:C, Si, Mn, P, S
- 有色金属
- 分析元素:Cu, Zn, Pb
- 环境监测
- 水质分析
- 重点:As, Hg, Cd
- 土壤重金属分析
- 地质矿产
- 矿石成分分析
- 稀土元素测定
- 生物医药
- 血样中微量元素检测
- 技术优势
- 多元素同时分析
- 线性范围宽
- 样品消耗少
- 可测非金属元素
- 例如:P, S, B
- 局限性
- 仪器昂贵
- 光谱干扰复杂
- 对非金属灵敏度较低
- 发展前沿
- ICP-MS联用
- 超痕量分析(ppt级)
- 激光诱导击穿光谱(LIBS)
- 固体直接分析
- 微流控芯片-AES
- 微量样品分析
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